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Chroma ATE präsentiert fortschrittliche Testtechnologien, um die KI-Revolution auf der SEMICON Taiwan 2023 voranzutreiben

TAOYUAN, 30. Aug. 2023 — Chroma ATE Inc., ein führender Anbieter von automatisierten Testsystemen, nimmt an der SEMICON Taiwan 2023 teil. Das Unternehmen wird eine Reihe innovativer Testlösungen mit Schwerpunkt auf künstlicher Intelligenz (KI), High-Performance-Computing (HPC), Automotive und KI-IoT-Anwendungen ausstellen, um den sich ständig weiterentwickelnden Anforderungen an die Halbleitertestung gerecht zu werden.

Chroma ATE Showcases Advanced Test Technology to Propel the AI Revolution at SEMICON Taiwan 2023
Chroma ATE Showcases Advanced Test Technology to Propel the AI Revolution at SEMICON Taiwan 2023

Fortschrittliche SoC/Analog-Testlösungen

Das Chroma 3650-S2 SoC/Analog Test System ist eine leistungsstarke Testplattform für Leistungs-ICs, die den Anforderungen moderner Hochspannungs-, Hochstrom- und komplexer digital gesteuerter Leistungs-ICs gerecht wird. Es ist mit bis zu 768 digitalen I/O- und Analogpins mit einer Stromversorgungskapazität von bis zu 3000 V oder 320 A ausgestattet und verfügt über eine Datenrate von 200 Mbps und eine Abschaltgenauigkeit von 300 ps. Es ist die ideale Wahl für Tests von Batteriemanagementsystem-ICs (BMS), Stromversorgungs-Management-ICs (PMIC) und GaN- und SiC-basierten Leistungs-ICs.

Das Chroma 3680 Advanced SoC Test System erfüllt effektiv die Testanforderungen modernster Chips, die in KI- und Automobiltechnologien eingesetzt werden. Das System bietet bis zu 2048 I/O-Pins mit Datenraten von bis zu 1 Gbps, unterstützt bis zu 16 G SCAN-Vektorspeicher und bietet eine Vielzahl von Testmodulen, aus denen die Anwender wählen können. Es kann digitale Logik-, parametrische Testeinheit-, Leistungs-, Speicher-, Mixed-Signal- und RF-Drahtloskommunikationstests gleichzeitig durchführen.

RF-Chip-Testlösungen

Die Chroma 3680/3380/3300 Automated Test Systems, integriert mit dem RFIC Tester Modell 35806, bieten eine umfassende Radiofrequenz-(RF)-Chip-Testlösung, die bereits von unseren Kunden für die Massenproduktion validiert wurde. Diese erweiterte Lösung unterstützt eine Reihe von Anwendungen, darunter Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT sowie GPS/BeiDou und Tuner & PA IoT-Kommunikationsstandards. Hervorzuheben ist ein Ultrahochfrequenz-Bandbreiten-VSG/VSA-Modul mit Abdeckung von 300K bis 6 GHz, das für ein breites Spektrum aufkommender drahtloser Kommunikationsstandards geeignet ist.

SLT Tri-Temp-Testlösung

Chroma 31000R-L ist ein Tri-Temp-Testsystem, das entwickelt wurde, um den anspruchsvollsten thermischen Testanforderungen gerecht zu werden. Mit stabilen Temperatursteuerungsfähigkeiten von -40°C bis +150°C und einer DUT-Kühlleistung (Device Under Test) von bis zu 1.800 W ist dieses System die ideale Wahl als High-End-IC-Tri-Temp-Testlösung.

Das Chroma 31000R-L kann nahtlos mit Chroma-Modellen wie 3210, 3110, 3260 und 3200 gekoppelt werden und bietet so eine umfassende SLT-Tri-Temp-Testlösung (System Level Test), die sowohl für Labore als auch für Fabs geeignet ist. Chromas Tri-Temp-Testlösung bedient eine Vielzahl fortgeschrittener und High-End-IC-Anwendungen, darunter Automotive, KI & Data Center, GPU, APU, HPC, Luft- und Raumfahrt sowie Verteidigung. Sie wurde entwickelt, um sicherzustellen, dass ICs auch unter rauen Umgebungsbedingungen einwandfrei funktionieren, und ist daher die optimale Wahl für Produktzuverlässigkeitstests.

Isolationsqualitätswächter für Leistungshalbleiterbauteile

Leistungshalbleiterbauteile (z. B. IGBTs, SiC-MOSFETs) werden in verschiedenen Bereichen eingesetzt, die tendenziell Hochleistung/hohen Strom für Stromwandlungs-/Steuerschaltungen verwenden, und Isolatoren (z. B. Optokoppler, digitale Isolatoren) werden in Umgebungen eingesetzt, in denen der Spannungsunterschied zwischen zwei Seiten (d. h. Primärseite und Sekundärseite) isoliert werden muss. Da zwischen diesen Komponenten höhere Spannungsunterschiede oder Potenzialdifferenzen auftreten, ist es sehr wichtig, sicherzustellen, dass diese Komponenten unter normalen Betriebsbedingungen eine gute Spannungsisolation aufrechterhalten können und keine kontinuierliche Teilentladung (PD) aufweisen, die zu Isolationsverschlechterungen führen kann. Chroma 19501 Series Partial Discharge Tester erfüllt die PD-Messanforderung von IEC 60270-1, und die in der Verordnung festgelegten Testmethoden wurden in das Instrument integriert. Es kann AC-Hipot-Tests (max. 10kVac) und Teilentladungsmessungen (max. 6000pC) durchführen, die die Qualität und Zuverlässigkeit des Langzeitbetriebs von Leistungshalbleiterbauteilen und Isolatoren effektiv sicherstellen können.

Fortschrittliche Verpackungstestlösungen

Für fortgeschrittene Verpackungsprozesse hat Chroma berührungslose optische Inspektionsgeräte mit proprietärer Technologie entwickelt. Chroma 7961 in situ AOI unterstützt Kunden bei der Erkennung von Defekten während des Herstellungsprozesses und ermöglicht eine Echtzeitanalyse und -kontrolle der Produktionsqualität. Das Chroma 7980 2D/3D Wafer Metrology System mit unserer patentierten BLiS-Technologie bietet nanoskalige 2D/3D-Kritische-Dimension-(CD)-Messungen. Mit für bestimmte Anwendungen optimierter Hardware und Software kommt Chroma 7980 bereits in verschiedenen 2D/3D-CD-Metrologieanwendungen für fortgeschrittene Verpackungsprozesse wie TSV und RDL zum Einsatz.

Nanopartikel-Überwachungssystem für Halbleitermaterialien

Mit der weiter steigenden Qualitätsanforderung an Halbleitermaterialien werden Materialinspektion und -überwachung immer wichtiger. Das SuperSizer In-line Nanopartikel-Überwachungssystem identifiziert erfolgreich Nanopartikel und Verunreinigungen von Flüssigchemikalien, die die Produktionsertrag beeinflussen, und hilft Verarbeitungsingenieuren, ultrafeine Partikel in Technologieknoten unter 20 Nanometern (nm) “zu sehen”. Der Messvorgang wird durch Nanobläschen überhaupt nicht gestört und misst präzise die Größen- und Mengenverteilung von Partikeln ab 3 nm, so dass Anwender Risiken kontrollieren und den Ertrag voll im Griff haben können.

Auf der SEMICON Taiwan 2023 (6.-8. September) wird Chroma stolz eine Vielzahl seiner Testlösungen in Halle 1, 1. OG, Stand K2776 im Taipei Nangang Exhibition Center präsentieren. Wir freuen uns auch auf die Teilnahme am Semiconductor Advanced Inspection and Metrology Forum, wo wir über innovative Metrologielösungen für Prozessinspektionen in der Halbleiter-Advanced-Packaging diskutieren werden. Kommen Sie vorbei und erkunden Sie mit uns die neuesten Trends in Test und Messtechnik, wir freuen uns darauf, Sie kennenzulernen!